《電子技術應用》
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X波段负载不敏感高效率非对称式放大器MMIC
电子技术应用
董一方1,刘俊峰2,邵煜伟1,2,余旭明2,郭润楠2,王酉杨1,顾文华1
1.南京理工大学 微电子学院;2.南京电子器件研究所
摘要: 为了应对天线阻抗变化,基于非对称拓扑电路结构,设计了一款功率放大器。该功率放大器采用0.25 μm GaN HEMT工艺,在8~12 GHz频段内高效率且具有负载不敏感特性,实现了高效率、小尺寸与良好负载不敏感特性三者之间的平衡。在连续波测试条件下,该芯片在8~12 GHz频段内,饱和输出功率为42.1~43.3 dBm,功率附加效率为46.8%~55.5% 。当负载失配(电压驻波比为3:1)时,频段内输出功率的变化幅度均值为2.2 dBm。
中圖分類號:TN722 文獻標志碼:A DOI: 10.16157/j.issn.0258-7998.257094
中文引用格式: 董一方,劉俊峰,邵煜偉,等. X波段負載不敏感高效率非對稱式放大器MMIC[J]. 電子技術應用,2026,52(5):80-85.
英文引用格式: Dong Yifang,Liu Junfeng,Shao Yuwei,et al. X-band load-insensitive high-efficiency power amplifier MMIC using asymmetric matching network[J]. Application of Electronic Technique,2026,52(5):80-85.
X-band load-insensitive high-efficiency power amplifier MMIC using asymmetric matching network
Dong Yifang1,Liu Junfeng2,Shao Yuwei1,2,Yu Xuming2,Guo Runnan2,Wang Youyang1,Gu Wenhua1
1.School of Microelectronics, Nanjing University of Science and Technology;2.Nanjing Electronic Devices Institute
Abstract: To address antenna impedance variations, a high-efficiency and load-insensitive power amplifier operating in the 8~12 GHz band is designed using 0.25 μm GaN HEMT technology. By employing an asymmetric impedance matching network structure, the design achieves an optimal balance among high efficiency, compact size and good load-insensitive characteristics. Under continuous-wave test conditions, the chip demonstrates a saturated output power of 42.1~43.3 dBm and power-added efficiency (PAE) of 46.8%~55.5% across the 8~12 GHz frequency band. When subjected to load mismatch (VSWR=3:1), the mean variation of output power within the frequency band is 2.2 dBm.
Key words : GaN;load-insensitive power amplifier;asymmetric impedance matching;high-efficiency

引言

功率放大器(Power Amplifier,PA)作為電子發射系統的核心器件,其性能直接影響整個系統的技術指標。X波段(8~12 GHz)因其獨特的頻段特性,在衛星通信、雷達系統和深空探測等高端應用領域具有不可替代的作用[1]。特別是在國防軍事應用中,X波段雷達系統憑借其優異的性能參數占據著戰略地位。在發射鏈路中,PA不僅是主要的能耗單元,其阻抗匹配狀態更直接關系到系統能效:當出現級聯阻抗失配時,不僅會造成顯著的能源損耗,還會加劇系統的散熱負擔,進而威脅系統的長期可靠運行[2]。

現代通信系統中,發射鏈路阻抗變化主要來源于多天線系統(Multiple-Input Multiple-Output, MIMO)的互耦效應以及波束掃描時的相位變化。特別是在采用多天線陣列的終端設備中,天線間的強互耦效應會導致阻抗特性發生顯著變化[3-4],這使得功率放大器經常工作在失配狀態下。因此,提升功率放大器的負載不敏感特性具有重要的工程價值。

針對功率放大器的負載失配問題,現有研究提出了多種解決方案。傳統方法采用基于Lange耦合器的平衡式放大器結構,雖然能有效改善負載不敏感特性[5],但其較大的物理尺寸和固有的插入損耗限制了整體性能。文獻[6]提出了一種基于CMOS工藝的數字Doherty PA設計方案,通過動態調節載波和峰值放大器的幅度相位來補償阻抗失配,但受限于CMOS工藝的功率處理能力。文獻[7]報道的SiGe工藝可重構拓撲結構雖然實現了阻抗自適應,同樣面臨輸出功率不足的局限。目前,平衡式放大器結構因其可靠性仍是主流商業應用選擇。

基于上述分析,本研究采用0.25 μm GaN HEMT工藝,創新性地提出了一種雙支路非對稱阻抗匹配結構。通過在輸入輸出端設計互補的相移網絡,實現了兩支路失配位置的優化分布。測試結果表明,該X波段功率放大器在8~12 GHz頻帶內實現了42.1~43.3 dBm的飽和輸出功率,功率附加效率為46.8%~55.5%。在僅3 mm×3 mm的芯片面積內,同時實現了高功率輸出和優異的負載不敏感特性。


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作者信息:

董一方1,劉俊峰2,邵煜偉1,2,余旭明2,郭潤楠2,王酉楊1,顧文華1

(1.南京理工大學 微電子學院,江蘇 南京 210094;

2.南京電子器件研究所,江蘇 南京 210016)

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