7月28日消息，德國馬克斯·普朗克學會Fritz Haber研究所的研究人員及其在日本分子科學研究所/SOKENDAI和西班牙CIC nanoGUNE的國際合作者開發了一項突破性的顯微技術，能夠以1納米的空間分辨率觀察光與物質的相互作用，即可以在單個原子的尺度上可視化光學反應，重新定義了光學成像的極限，這一成就被稱為“超低振幅震蕩s-SNOM”。
傳統的s-SNOM方法使用激光照射的探針尖端掃描表面，通常可實現10至100納米的分辨率。然而，這對于原子尺度成像來說是不夠的。通過將s-SNOM與非接觸式原子力顯微鏡（nc-AFM）集成，并在可見激光照射下使用銀尖端，研究人員創建了一個限制在微小體積內的等離子體腔（一種特殊的光場）。這允許在埃尺度上進行詳細的光學對比。
全新的“超低振幅震蕩s-SNOM”技術將分辨率提升至1nm，讓科學家能夠觀察到原子缺陷、分子及奈米結構等微小特征，這對于材料科學、電子學及醫療設備的設計具有重要意義。
這項技術的發展不僅突破了以往超高解析顯微鏡的限制，還為未來的研究和技術發展開啟新的可能性。科學家們相信，這種精確的成像能力將對材料的行為和性能產生深遠影響，并推動新材料的設計與應用。該研究成果上月已經發表在了《科學進展》（Science Advances）期刊上。
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