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LabVIEW 2016新增通道连线功能
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NI推出交钥匙HIL仿真仪
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NI发布业界最高精度的PXI源测量单元
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NI推出第二代矢量信号收发仪
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PXI 智能测试系统的必然选择
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NI举办第十三届“PXI 技术和应用论坛”
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NI推出业界最精确的7位半数字万用表(DMM)
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NI推出802.11ax无线测试解决方案
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首届LabVIEW国际挑战赛火热启动
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第十三届“PXI技术和应用论坛（PXI TAC 2016）”将于6月16日在上海举办
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NI亮相VTC 2016春季会议
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美国国家仪器与北京交通大学联合揭幕
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美国国家仪器（NI）出席2016智能制造国际会议
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NI 发布进阶版分布式设备大规模在线监控方案
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美国国家仪器携手同济大学联合揭幕
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NI携最新通信系统设计解决方案亮相2016电子设计创新会议
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NI发布VirtualBench多功能一体式仪器增强版
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NI发布灵活的 LTE-U/LAA 参考验证方案
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NI发布2016自动化测试趋势展望 智能化测试系统势在必行
發(fā)表于：2016/3/21 下午8:57:00
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NI推出增强版半导体测试管理软件
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NI发布2016自动化测试趋势展望，智能化测试系统势在必行
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NI亮相2016Semicon中国半导体展 推出增强版半导体测试管理软件
發(fā)表于：2016/3/16 下午5:02:00
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携手NI 走近日益互联化的工业世界与工业大数据
發(fā)表于：2016/3/14 下午8:06:00
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上海微技术工研院牵手美国国家仪器引领国内射频及微波芯片测试技术研发
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TSN，为工业物联网量身定做的全新网络标准
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贸泽电子官网迎来20周岁生日
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Xilinx加入工业互联网联盟
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