新聞發(fā)布– 2016年7月11日– NI（美國國家儀器，National Instruments, 簡稱NI） 作為致力于為工程師和科學(xué)家提供解決方案來應(yīng)對全球最嚴(yán)峻的工程挑戰(zhàn)的供應(yīng)商，近日宣布推出NI PXIe-4135源測量單元(SMU)，其測量靈敏度達(dá)10 fA，輸出電壓高達(dá)200V。工程師可以使用NI PXIe-4135 SMU來測量低電流信號，并利用NI PXI SMU的高通道密度、高速的測試吞吐率和靈活性來實現(xiàn)晶圓級參數(shù)測試、材料研究以及分析低電流傳感器和集成電路的特性等各種應(yīng)用。

　　“我們的順序參數(shù)測試需要采集數(shù)百萬個數(shù)據(jù)點，電流泄露通常在pA級。”IMEC研究人員Bart De Wachter博士表示， “在受益于PXI平臺提供的高速度和LabVIEW的系統(tǒng)編程靈活性的同時，全新的NI PXI SMU可幫助我們精確地測量低電流信號。”

　　模塊化NI PXI SMU可幫助工程師來構(gòu)建緊湊型并行高通道數(shù)系統(tǒng)，在單個PXI機箱中提供了高達(dá)68個SMU通道，而且可擴展至數(shù)百個通道來滿足晶圓級可靠性和并行測試需求。 此外，用戶還可利用高速通信總線、確定性硬件序列生成、以及使用數(shù)字控制回路技術(shù)對任意待測設(shè)備自定義調(diào)節(jié)SMU響應(yīng)，從而提高測試吞吐量。 工程師還可以通過軟件控制SMU響應(yīng)，避免了長時間等待SMU穩(wěn)定，并可借助NI PXI SMU的靈活性來最小化過沖和振蕩，即使是在帶有高電容性的負(fù)載的情況下也是如此。

　　“半導(dǎo)體器件復(fù)雜性的增加要求我們重新思考傳統(tǒng)的研究、特性分析和晶片可靠性測量方法，而這一直是我們投資PXI SMU的關(guān)鍵動力，”NI自動化測試總監(jiān)Luke Schreier表示， “NI SMU降低了測量時間，提高了通道密度，而且現(xiàn)在更提供了更好的測量質(zhì)量和高達(dá)10 fA的靈敏度。”

　　NI PXI SMU不僅提供了臺式SMU的易用性，其交互式軟件前面板也可用于進(jìn)行基本的測量和調(diào)試自動化應(yīng)用。  驅(qū)動程序包含了幫助文件、文檔描述和可立即運行的范例程序，可輔助測試代碼開發(fā)，并包含了一個編程接口，可支持C、Microsoft .NET和LabVIEW系統(tǒng)設(shè)計軟件等各種開發(fā)環(huán)境。 工程師還可結(jié)合NI TestStand測試管理軟件使用NI PXI SMU，簡化實驗室或生產(chǎn)車間的測試系統(tǒng)開發(fā)和部署。