| 应对多样化数字接口测试挑战的解决方案——基于可编程FPGA的测试仪器 | |
| 所屬分類：白皮书 | |
| 上傳者：Stone_Mei | |
| 文檔大小：1015 K | |
| 標簽： FPGA Quartus 虹科电子 | |
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| 文檔介紹：现今，电子测试工程师面临着大量多样化的数字接口带来的挑战。军事、航空、通信和汽车电子都同时使用工业标准和定制数字接口。专用特定接口的测试仪器和用于通用数字I/O接口的测试仪器可以支持以上大部分接口。专用测试仪器是非常昂贵的，通用数字I/O接口的测试仪器仅试用部分方案并且需要大量编程/调试工作，最终也会增加成本。然而，基于可编程FPGA的测试仪器可以提供成本合理的解决方案，并可选通用数字I/O接口还 | |
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