4 月 27 日消息，“中科院之聲”公眾號今日發文稱，近日，中國科學院金屬研究所團隊開發出暗場電子層析成像新方法 DFET-Nano，實現了對納米金屬晶界的三維“透視”。簡單來說，這就像給納米晶粒作 CT 掃描。
團隊利用透射電子顯微鏡，從不同角度為納米晶粒拍攝大量暗場像照片，然后通過復雜的重構算法，將二維圖像合成為高精度的三維立體模型。目前，該技術的空間分辨率已經達到 0.3 納米。
從文中獲悉，這種方法不僅重建了晶粒的外形，還能同步解析其晶體學取向。也就是說，研究人員不僅能“看見”晶粒長什么樣，還能知道每個晶粒的晶界結構特征，從而精確計算出晶界的晶面指數和曲率。這些直觀的三維證據，首次在實驗中驗證了理論物理學家提出的“受限晶體結構”特征。
這項研究就像一把鑰匙，打開了納米材料“黑箱”。借助它，科學家能在三維空間中直接觀察和測量晶界變化，從而更透徹地理解納米金屬穩定機制，為未來設計更高性能、更穩定的納米材料提供了新的表征手段。
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