一种面向SRAM型FPGA的三模冗余分区自修复方法研究
2021年电子技术应用第6期
王 鹏，刘正清，田 毅
中国民航大学 适航学院，天津300300
摘要： SRAM型FPGA的低成本及其现场可编程性使其在航空航天工业中很受欢迎。为解决FPGA受宇宙辐射引起的单粒子效应(Single Event Effect，SEE)，常使用三模冗余(Triple Modular Redundancy，TMR)这一缓解技术。该技术通常与配置刷新技术一起用来加固基于SRAM的FPGA。传统的TMR只能针对单个故障提供一次保护，而将三模冗余结构进行分区可以增强其环境适应性。研究了一种将配置刷新和分区三模冗余结合的方法，并采用PRISM工具进行模型验证，结果表明该方法可以增强系统的可用性。
中圖分類號： TN710
文獻標識碼： A
DOI：10.16157/j.issn.0258-7998.200384
中文引用格式： 王鵬，劉正清，田毅. 一種面向SRAM型FPGA的三模冗余分區自修復方法研究[J].電子技術應用，2021，47(6)：92-95.
英文引用格式： Wang Peng，Liu Zhengqing，Tian Yi. A recovery methodology for SRAM-based FPGA partitioned TMR[J]. Application of Electronic Technique，2021，47(6)：92-95.
文獻標識碼： A
DOI：10.16157/j.issn.0258-7998.200384
中文引用格式： 王鵬，劉正清，田毅. 一種面向SRAM型FPGA的三模冗余分區自修復方法研究[J].電子技術應用，2021，47(6)：92-95.
英文引用格式： Wang Peng，Liu Zhengqing，Tian Yi. A recovery methodology for SRAM-based FPGA partitioned TMR[J]. Application of Electronic Technique，2021，47(6)：92-95.
A recovery methodology for SRAM-based FPGA partitioned TMR
Wang Peng，Liu Zhengqing，Tian Yi
College of Airworthiness，Civil Aviation University of China，Tianjin 300300，China
Abstract： SRAM-based FPGAs are popular in the aerospace industry for their field programmability and low cost. However, they suffer from cosmic radiation-induced single event effect(SEE). Triple modular redundancy(TMR) is a well-known technique to mitigate SEEs in FPGAs that is often used with another SEE mitigation technique known as configuration scrubbing. Traditional TMR provides protection against a single fault at a time, while partitioned TMR provides improved availability. A recovery methodology to combine partitioned TMR and configuration scrubbing is presented in this paper, and the results show that the improvement in availability is achieved by the proposed methodology.
Key words : single event effect；FPGA；partitioned TMR；recovery
0 引言
隨著航天技術的蓬勃發展，航天系統對電子器件的性能要求越來越高。在航天電子設備的設計中，基于SRAM的FPGA由于其現場可編程性、維修成本低等優點，使其比專用集成電路(Application Specific Integrated Circuits，ASICs)更有優勢。航天環境中的電子系統設計，不僅要滿足對性能的需求，數據傳輸時的可靠性和電子系統的可用性也必須得到保證。暴露在高電磁輻射中，工作中的電子器件會持續受到高能粒子撞擊以致輻射效應，如單粒子翻轉(SEU)等[1]，由輻射引起的單粒子翻轉在導致空間環境中電子系統失效的原因中占很大的比例。所以需要提高電路的抗輻射干擾能力。
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作者信息：
王 鵬，劉正清，田 毅
(中國民航大學 適航學院，天津300300)
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