新聞發(fā)布 - 2016年8月2日– NIWeek - NI(美國國家儀器公司，National Instruments，簡稱NI) 作為致力于幫助工程師和科學家應對全球最嚴峻的工程挑戰(zhàn)的平臺系統(tǒng)供應商，今日宣布推出了NI PXle-6570基于圖形向量的數字通道板卡和NI數字圖形向量編輯器。 該產品將射頻集成電路、電源管理IC、微機電（MEMS）系統(tǒng)設備以及混合信號IC的制造商從傳統(tǒng)半導體自動化測試設備(ATE)的封閉式架構中解放出來。

       傳統(tǒng)ATE的測試覆蓋率通常無法滿足最新半導體設備的要求。通過將半導體行業(yè)成熟的數字測試模式引入到基于PXI開放平臺的半導體測試系統(tǒng)（STS）中,并使用功能強大且人性化的編輯器和調試器進行優(yōu)化，用戶可以利用先進的PXI儀器來降低射頻和模擬IC的測試成本并提高吞吐量。

      “PXI數字模式儀器為半導體工程師提供所有高端數字測試平臺才具備的數字性能，因此它的問世無疑是為STS錦上添花，” NI半導體測試副總裁Ron Wolfe表示， “如果生產車間的PXI具備這個功能，他們就可以在滿足先進器件的成本和測試要求的同時，輕松將其擴展到其他產品的測試上。”

       NI PXIe-6570數字模式儀器以非常實惠的價格為無線設備供應鏈和物聯(lián)網設備常用IC提供了所需的測試功能。它具有100 MVector/秒的圖形向量執(zhí)行速率，在單個子系統(tǒng)中具有獨立的源、捕獲引擎、電壓/電流參數函數以及高達256個同步數字引腳。 用戶可充分利用PXI的開放性和STS，根據需求任意地增加或減少所需的器件，以滿足測試配置所需的器件引腳和測試點數。

       全新的數字模式編輯器軟件具有以下功能：器件引腳映射圖、規(guī)范和圖形向量編輯環(huán)境，有助于更快速地制定測試計劃；各種內置工具，如多站點和多儀器并行收發(fā)可實現產品從開發(fā)到投產的無縫對接；shmoo圖和交互式引腳視圖等工具，可更高效地調試和優(yōu)化測試。

       使用相同PXI硬件、TestStand、LabVIEW和數字模式編輯器軟件進行特性分析和產品測試，可減少數據關聯(lián)所需的工作，從而縮短產品上市時間。 STS配置內外的PXI硬件占地空間小，可節(jié)省廠房空間，而且可使用特性分析實驗室臺上的標準墻插式電源供電。

       “PXI已被證明是一個出色的軟硬件集成解決方案，可同時適用于產線車間和特性分析實驗室，”Wolfe補充道，“NI基于圖形向量的數字通道板卡和數字圖形向量編輯器是重要的創(chuàng)新產品，可幫助器件制造商和測試室降低測試成本以及優(yōu)化測試程序開發(fā)。”

       許多半導體公司正基于NI平臺和生態(tài)系統(tǒng)來構建智能化的測試系統(tǒng)。 不僅僅是生產適用的STS系列、1 GHz帶寬矢量信號收發(fā)儀，fA級源測量單元以及TestStand半導體模塊, 這些系統(tǒng)受益于覆蓋了直流到毫米波的600多款PXI產品。 它們采用PCI Express第三代總線接口，具有高吞吐量數據傳輸能力，同時具有子納秒級同步以及集成的定時和觸發(fā)。 用戶可以利用LabVIEW和TestStand軟件環(huán)境的高效生產力，以及一個由合作伙伴、附加IP、應用工程師團隊組成的活躍生態(tài)系統(tǒng)，大幅降低測試成本，縮短上市時間，開發(fā)面向未來的測試設備，滿足未來RF和混合信號測試的各種挑戰(zhàn)。

       如需了解NI的更多半導體測試產品，請訪問www.ni.com/semiconductor