| CPLD器件测试系统 | |
| 所屬分類：技术论文 | |
| 上傳者：aet | |
| 文檔大?。?span>1451 K | |
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| 文檔介紹：以Lattice公司的ispLSI1032E为被测对象，设计出一套测试装置，对该芯片的性能指标和可能出现的故障进行测试。本装置只需配置三次电路和施加相应的测试向量就能对芯片进行全面的测试，提高了测试效率，实用价值很高。 | |
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