| 高安全性测试数据分层的芯片测试方案设计 | |
| 所屬分類(lèi)：技术论文 | |
| 上傳者：wwei | |
| 文檔大小：1772 K | |
| 標(biāo)簽： 嵌入式芯片测试 测试模式 JTAG | |
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| 文檔介紹：随着嵌入式芯片集成度与复杂度的持续提升，传统测试方法在安全性、灵活性及测试效率方面的瓶颈日益凸显。因此以通用微控制器（MCU）为研究对象，深入剖析芯片测试模式的核心技术，提出一套集高安全性测试模式准入、测试数据分层分配于一体的芯片测试方案。该方案通过63位密钥认证机制实现测试模式安全接入，同时构建IO直接控制、寄存器控制与Flash系统配置值控制的分层架构，保障测试数据的灵活分配，可全面覆盖芯片多模块的测试需求，为高安全场景下的芯片测试提供可靠支撑。 | |
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