| 基于改进快速蒙特卡洛算法的电路失效分析 | |
| 所屬分類：技术论文 | |
| 上傳者：wwei | |
| 文檔大小：2054 K | |
| 標簽： 蒙特卡洛 工艺参数 可靠性 | |
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| 文檔介紹：蒙特卡洛算法被广泛应用于电路和系统的可靠性分析中。然而随着制造工艺的进步，影响电路性能的工艺参数急剧增加，电路单次仿真时间开销愈发昂贵，标准蒙特卡洛算法所耗费的整体时间过长。因此，提出了一种改进的快速蒙特卡洛算法以大幅度加速电路的可靠性评估。该方法通过按电路节点切分关键参数构建用于拟合局部特征的子模型，再利用浅层神经网络整合多个子模型以构建全局稀疏回归模型，用于替代昂贵的电路仿真，并利用模型快速筛选蒙特卡洛算法中可能会发生失效的样本；在替代模型筛选完样本后，通过对筛选后的可能失效样本进行重仿真获取准确的失效样本数目，进而统计电路的失效率。为了保证模型预测的失效样本数目能够覆盖真实的失效样本数目，通过对模型在测试集上的预测值进行最大排序的方法确定重仿真的合理范围。在28 nm工艺下的电路实验结果表明，所介绍的快速蒙特卡洛算法相比标准蒙特卡洛算法速度提升了1 146倍~1 886倍，而准确度没有损失。与其他的快速蒙特卡洛算法相比，所介绍的方法速度提升了2.6倍~7.8倍。 | |
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