| NI-Hardware-in-the-Loop (HIL) Test System | |
| 所屬分類：解决方案 | |
| 上傳者：wwei | |
| 文檔大小：5016 K | |
| 標(biāo)簽： NI HIL测试 硬件在环测试 | |
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| 文檔介紹：NI-Hardware-in-the-Loop (HIL) Test System 硬件在环测试（Hardware in the Loop, HIL），是指将真的控制器连接仿真的被控对象（用实时仿真硬件来模拟），以一种高效、低成本的方式对控制器进行全面测试。 乘着智能汽车的风口，HIL（硬件在环测试）被业界所熟知。更早以前，HIL测试主要用于航空航天行业，随着医疗、消费电子行业越来越多使用嵌入式软件，HIL测试逐渐在这些行业普及开来。 | |
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