一种基于FPGA的eMMC寿命验证的方法
电子技术应用
虞亚君1，王小龙1，2，邵春伟1，2，郝国峰1，2，沈小波1，2
1.无锡华普微电子有限公司，江苏 无锡 214035；2.中科芯集成电路有限公司，江苏 无锡 214072
摘要： 为满足测试eMMC存储颗粒的长时间读写性能要求，研究了一种基于FPGA的eMMC寿命验证方法。结合eMMC工作原理和High Speed DDR（双倍率）总线模式，详细设计出验证系统的核心组成部分。硬件采用FPGA（xc7a50tfgg484-1）芯片作为主控器，4片eMMC（FEMDRW064G-88A19）芯片作为验证对象。解析eMMC初始化配置方法，设计开放式读写模块，配合eMMC监控软件控制指令，完成4片180 000次块区域的循环读写，测试结果全部通过，读写均速达到31 MB/s。
中圖分類號：TN914 文獻標志碼：A DOI: 10.16157/j.issn.0258-7998.234126
中文引用格式： 虞亞君，王小龍，邵春偉，等. 一種基于FPGA的eMMC壽命驗證的方法[J]. 電子技術(shù)應(yīng)用，2024，50(2)：107-110.
英文引用格式： Yu Yajun，Wang Xiaolong，Shao Chunwei，et al. A method of eMMC lifetime verification based on FPGA[J]. Application of Electronic Technique，2024，50(2)：107-110.
中文引用格式： 虞亞君，王小龍，邵春偉，等. 一種基于FPGA的eMMC壽命驗證的方法[J]. 電子技術(shù)應(yīng)用，2024，50(2)：107-110.
英文引用格式： Yu Yajun，Wang Xiaolong，Shao Chunwei，et al. A method of eMMC lifetime verification based on FPGA[J]. Application of Electronic Technique，2024，50(2)：107-110.
A method of eMMC lifetime verification based on FPGA
Yu Yajun1，Wang Xiaolong1，2，Shao Chunwei1，2，Hao Guofeng1，2，Shen Xiaobo1，2
1.Wuxi Hope Microelectronics Co.， Ltd.， Wuxi 214035， China； 2.China Key System & Integrated Circuit Co.， Ltd.， Wuxi 214072， China
Abstract： In order to meet the requirements of testing the long-term read and write performance of eMMC storage particles, an eMMC life verification design method is studied based on FPGA. Combined with eMMC working principle and high speed DDR（double rate）bus mode, the core components of verification system are designed in detail. FPGA（xc7a50tffgg484-1）is adopted as main control chip and four pieces of eMMC（FEMDRW064G-88A19）are selected as verification objects. The initial configuration method of eMMC is analyzed, and the module of open read and write is designed. With the control commands of the eMMC monitoring software, 180 000 times of loop read and write based on the blocks is completed. All the test results are passed, and the average read/write speed can reach 31 MB/s.
Key words : eMMC；lifetime verification；high speed DDR bus；FPGA
引言
eMMC（Embedded Multi Media Card）存儲顆粒以其尺寸小、速度高、易開發(fā)的特點[1]，非常適合用作嵌入式數(shù)據(jù)存儲介質(zhì)。用在機載記錄裝置時，實時記錄大量飛行圖像數(shù)據(jù)，待飛行結(jié)束后再將數(shù)據(jù)卸載回收，提供給相關(guān)機構(gòu)進行研究。用在汽車駕駛輔助系統(tǒng)時，實時記錄視頻攝像頭、激光測距器等探測的環(huán)境數(shù)據(jù)，經(jīng)過控制器運算，做出行駛路徑的預(yù)測與規(guī)劃[2]。雖然eMMC具備壞塊管理能力，但如果長時間高密度讀寫，會出現(xiàn)數(shù)據(jù)記錄出錯情況。在系統(tǒng)研發(fā)階段，需提前驗證其實際使用壽命，靠近壽損之前及時更換芯片，以確保數(shù)據(jù)記錄無誤。本文設(shè)計的eMMC壽命驗證方法，使用FPGA作為讀寫eMMC的主控器，可同時驗證4片eMMC壽命，硬件結(jié)構(gòu)簡單、通用性好、觀測性強。
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作者信息：
虞亞君1，王小龍1，2，邵春偉1，2，郝國峰1，2，沈小波1，2
1.無錫華普微電子有限公司，江蘇 無錫 214035；2.中科芯集成電路有限公司，江蘇 無錫 214072
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