PXI Express測試儀器與實驗芯片相連接的測試平臺
"我們已使用PXI Express自動測試系統完成多個項目，并獲得非常滿意的效果。自動測試系統大大減少了芯片測試的時間，而其快速、準確的直流測試更是實驗室的寶貴財富。"
- Mario Konijnenburg, Holst Centre/imec
The Challenge:
創建靈活的測試系統用于自動驗證和表征新的超低功耗半導體芯片設計。
The Solution:
使用NI LabVIEW軟件和NI PXI Express高速數字I/O設備開發自動測試系統，前者讀取測試向量，后者產生和接收數字數據，并同時以很高的精度測量芯片設計的直流損耗。
本站內容除特別聲明的原創文章之外，轉載內容只為傳遞更多信息，并不代表本網站贊同其觀點。轉載的所有的文章、圖片、音/視頻文件等資料的版權歸版權所有權人所有。本站采用的非本站原創文章及圖片等內容無法一一聯系確認版權者。如涉及作品內容、版權和其它問題，請及時通過電子郵件或電話通知我們，以便迅速采取適當措施，避免給雙方造成不必要的經濟損失。聯系電話：010-82306118；郵箱：aet@chinaaet.com。